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博達(dá)微FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測(cè)試、電容電壓 (CV) 測(cè)試、脈沖式 IV 測(cè)試、任意線(xiàn)性波形發(fā)生與測(cè)量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力。

吉時(shí)利全自動(dòng)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類(lèi)材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開(kāi)發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試(I-V曲線(xiàn)測(cè)試)、電容-電壓曲線(xiàn)測(cè)試(C-V曲線(xiàn)測(cè)試)和超快脈沖I-V曲線(xiàn)測(cè)量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)是滿(mǎn)足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)，旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評(píng)估、驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)等需要的場(chǎng)合。特別對(duì)于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測(cè)量出實(shí)際的器件參數(shù)。

同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對(duì)半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。 TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線(xiàn)快速分選、自動(dòng) 化集成測(cè)試及滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。